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一种宽照度全色成像探测芯片  
 【申请号】  CN201310431718.1  【申请日】  2013-09-22
 【公开号】  CN103528675A  【公开日】  2014-01-22
 【申请人】  华中科技大学  【地址】  430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
 【共同申请人】  
 【发明人】  张新宇;康胜武;佟庆;罗俊;张静;赵慧;桑红石;谢长生
 【国际申请】    【国际公布】  
 【进入国家日期】  
 【专利代理机构】  华中科技大学专利中心 42201  【代理人】  朱仁玲
 【分案原申请号】  
 【国省代码】  42
 【摘要】  本发明公开了一种宽照度全色成像探测芯片,包括面阵电控双模平面液晶微透镜、面阵全色探测器和驱控预处理模块;面阵全色探测器被划分成多个阵列分布的子面阵全色探测器,每个子面阵全色探测器包括数量和排布方式相同的多个阵列分布的光敏元;面阵电控双模平面液晶微透镜与面阵全色探测器匹配耦合,包括多个阵列分布的单元电控双模平面液晶微透镜,每单元电控双模平面液晶微透镜与一个子面阵全色探测器对应;面阵电控双模平面液晶微透镜基于入射光的强度,对其进行定向汇聚、发散或维持光束的空间传输形态。本发明的探测芯片可实现宽照度范围内的全色图像信息获取,测量精度高,目标和环境适应性好,易与常规光学系统耦合。
 【主权项】  一种宽照度全色成像探测芯片,其特征在于,包括面阵电控双模平面液晶微透镜、面阵全色探测器和驱控预处理模块;其中,所述面阵全色探测器被划分成多个阵列分布的子面阵全色探测器,每个子面阵全色探测器包括数量和排布方式相同的多个阵列分布的光敏元;所述面阵电控双模平面液晶微透镜与所述面阵全色探测器匹配耦合,包括多个阵列分布的单元电控双模平面液晶微透镜,每单元电控双模平面液晶微透镜与一个子面阵全色探测器对应;所述面阵电控双模平面液晶微透镜基于入射光的强度,对其进行定向汇聚、发散或维持光束的空间传输形态,从而在各子面阵全色探测器上形成小尺寸汇聚光斑、具有相对较暗的中心漏光场的大尺寸亮环或基于成像光学系统构建的汇聚光束所形成的聚焦斑;所述面阵全色探测器执行从光到电的光电转换操作,得到光电响应信号;所述驱控预处理模块提取所述面阵全色探测器上的光敏元的非饱和光电响应信号,并进行量化和非均匀性校正,得到目标图像数据。
 【页数】  11
 【主分类号】  G01J1/42
 【专利分类号】  G01J1/42;G01J1/04
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