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扫描寄存器、扫描链、芯片及其测试方法  
 【申请号】  CN200910222729.2  【申请日】  2009-11-17
 【公开号】  CN102062836A  【公开日】  2011-05-18
 【申请人】  三星半导体(中国)研究开发有限公司;三星电子株式会社  【地址】  215021 江苏省苏州市工业园区国际科技园科技广场7楼
 【共同申请人】  
 【发明人】  王金城
 【国际申请】    【国际公布】  
 【进入国家日期】  
 【专利代理机构】  北京铭硕知识产权代理有限公司 11286  【代理人】  韩明星;杨静
 【分案原申请号】  
 【国省代码】  32
 【摘要】  本发明提供了一种扫描寄存器、包括所述扫描寄存器的扫描链、包括所述扫描链的可测试芯片以及测试所述可测试芯片的方法。所述扫描寄存器包括:输入单元,接收数据信号和扫描信号,并根据扫描使能信号来输出接收的数据信号或扫描信号;触发器单元,接收来自所述输入单元的数据信号或扫描信号,并根据时钟信号来输出接收的数据信号或扫描信号;输出单元,包括数据输出端和扫描输出端,所述输出单元接收来自所述触发器单元的数据信号或扫描信号,并根据扫描使能信号通过所述数据输出端输出接收的数据信号或者通过所述扫描输出端输出接收的扫描信号。因此,可以独立地向功能路径和扫描路径提供信号,从而减小了动态功耗。
 【主权项】  一种扫描寄存器,其特征在于包括:输入单元,以用于接收数据信号和扫描信号,并根据扫描使能信号来输出接收的数据信号或扫描信号;触发器单元,以用于接收来自所述输入单元的数据信号或扫描信号,并根据时钟信号来输出接收的数据信号或扫描信号;输出单元,以用于接收来自所述触发器单元的数据信号或扫描信号,并根据扫描使能信号通过数据输出端输出接收的数据信号或者通过扫描输出端输出接收的扫描信号。
 【页数】  14
 【主分类号】  G01R31/317
 【专利分类号】  G01R31/317;G01R31/3185
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