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一种芯片数字接口的测试方法及系统  
 【申请号】  CN201210180019.X  【申请日】  2012-06-01
 【公开号】  CN103454579A  【公开日】  2013-12-18
 【申请人】  安凯(广州)微电子技术有限公司  【地址】  510663 广东省广州市科学城科学大道182号创新大厦C1区3楼
 【共同申请人】  
 【发明人】  葛保建;黄杰成;胡胜发
 【国际申请】    【国际公布】  
 【进入国家日期】  
 【专利代理机构】  深圳中一专利商标事务所 44237  【代理人】  张全文
 【分案原申请号】  
 【国省代码】  44
 【摘要】  本发明于接口测试技术领域,提供了一种芯片数字接口的测试方法及系统。方法包括:接收测试指令,并向被测芯片的数字接口发送相应测试用例的第一数字信号;接收第一数字信号经数字接口传输后输出的第二数字信号,并将接收到的第二数字信号与预存的第一数字信号进行比对,输出比对结果;根据输出的比对结果,发出表征数字接口正常/异常的提示信号。本发明由于预存了测试过程中发送给数字接口的第一数字信号,并在测试开始后,直接向数字接口发送第一数字信号,通过第二数字信号与预存第一数字信号的比较,可以准确识别芯片上数字接口的数据正确性,从而避免了模/数转换带来的数据不确定因素,提高了测试的自动化程度和测试的可重复性、灵活性。
 【主权项】  一种芯片数字接口的测试方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:接收测试指令,并向被测芯片的数字接口发送相应测试用例的第一数字信号;接收所述第一数字信号经所述数字接口传输后输出的第二数字信号,并将接收到的所述第二数字信号与预存的所述第一数字信号进行比对,输出比对结果;根据输出的所述比对结果,发出表征数字接口正常/异常的提示信号。
 【页数】  9
 【主分类号】  G01R31/3193
 【专利分类号】  G01R31/3193
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