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粒子测定装置  
 【申请号】  CN201410121220.X  【申请日】  2014-03-28
 【公开号】  CN104075979A  【公开日】  2014-10-01
 【申请人】  希森美康株式会社  【地址】  日本兵库县神户市中央区脇浜海岸通1丁目5番1号
 【共同申请人】  
 【发明人】  山田和宏;山本毅
 【国际申请】    【国际公布】  
 【进入国家日期】  
 【专利代理机构】  北京市安伦律师事务所 11339  【代理人】  杨永波;刘良勇
 【分案原申请号】  
 【国省代码】  JP
 【摘要】  本发明提供一种粒子测定装置,其特征在于具有:流动室,用于供试样流动;第一光源,射出具有第一波长的光;第二光源,射出具有不同于所述第一波长的第二波长的光;照射光学系统,向所述流动室照射所述第一光源和所述第二光源射出的光;第一受光部件,接受向通过所述流动室的测定粒子照射来自所述第一光源的光所获得的散射光;第二受光部件,接受向通过所述流动室的测定粒子照射来自所述第二光源的光所获得的散射光。
 【主权项】  一种粒子测定装置,包括:流动室,用于供试样流动;第一光源,用于射出具有第一波长的光;第二光源,用于射出具有不同于所述第一波长的第二波长的光;照射光学系统,用于向所述流动室照射所述第一光源和所述第二光源射出的光;第一受光部件,用于接受向通过所述流动室的测定粒子照射来自所述第一光源的光所获得的散射光;以及第二受光部件,用于接受向通过所述流动室的测定粒子照射来自所述第二光源的光所获得的散射光。
 【页数】  48
 【主分类号】  G01N15/14
 【专利分类号】  G01N15/14
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