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热式流量计  
 【申请号】  CN201380031575.3  【申请日】  2013-05-31
 【公开号】  CN104380054A  【公开日】  2015-02-25
 【申请人】  日立汽车系统株式会社  【地址】  日本茨城县
 【共同申请人】  
 【发明人】  田代忍;半泽惠二;德安升;森野毅;土井良介;上之段晓
 【国际申请】  2013-05-31 PCT/JP2013/065133  【国际公布】  2013-12-19 WO2013/187249 JA
 【进入国家日期】  
 【专利代理机构】  北京尚诚知识产权代理有限公司 11322  【代理人】  龙淳
 【分案原申请号】  
 【国省代码】  JP
 【摘要】  本发明提供一种在树脂制的壳体和罩利用激光熔接的情况下,也能够高精度地检测被测量气体的热式流量计。本发明的热式流量计(300)包括:用于使从主通路(124)取入的被测量气体(30)流动的副通路;和在与副通路中流动的被测量气体(30)之间进行热传递来测量被测量气体(30)的流量的流量检测部(602)。凹槽(741)以包括熔接部(792)的副通路形成壁(390)的端面与罩(303)的背面的界面(792)的一部分位于凹槽(741)的壁面的方式形成。
 【主权项】  一种热式流量计,包括用于使从主通路取入的被测量气体流动的副通路,和在与该副通路中流动的被测量气体之间进行热传递来测量所述被测量气体的流量的流量检测部,其特征在于,包括:包括所述流量检测部,并且由第一树脂成形的电路封装体;形成构成所述副通路的一部分的副通路槽,以固定所述电路封装体的方式由第二树脂成形的树脂制的壳体;和通过覆盖所述副通路槽而成形所述副通路的树脂制的罩,所述壳体的形成副通路的副通路形成壁的端面与所述罩的背面通过激光熔接,在比与所述罩熔接的所述壳体的熔接部靠所述副通路一侧的位置,沿着所述熔接部形成有凹槽,以包括所述熔接部的副通路形成壁与所述罩的界面的一部分位于所述凹槽的壁面的方式,形成所述凹槽。
 【页数】  56
 【主分类号】  G01F1/684
 【专利分类号】  G01F1/684
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