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一种SRAM型FPGA单粒子软错误与电路失效率关系快速测定方法  
 【申请号】  CN201610183678.7  【申请日】  2016-03-28
 【公开号】  CN105869679A  【公开日】  2016-08-17
 【申请人】  北京空间飞行器总体设计部  【地址】  100094 北京市海淀区友谊路104号
 【共同申请人】  
 【发明人】  于登云;贾晓宇;蔡震波;张庆祥;李衍存;王颖;秦珊珊;郑玉展
 【国际申请】    【国际公布】  
 【进入国家日期】  
 【专利代理机构】  中国航天科技专利中心 11009  【代理人】  范晓毅
 【分案原申请号】  
 【国省代码】  11
 【摘要】  本发明涉及一种SRAM型FPGA单粒子软错误与电路失效率关系快速测定方法,步骤如下:(1)选定初始向配置区注入的翻转位数N;(2)随机选择FPGA配置区N位进行故障注入,运行FPGA,记录FPGA输出是否出现错误;(3)重复第(2)k次,直到失效率在30%到70%;(4)根据实际条件,按照最终选定的N,进行尽量多次的故障注入,获得较好的统计性,推荐注入以N位随机翻转的故障注入试验次数不的小于30次;(5)最终得到注入N位随机故障后电路失效率为λN,然后用1#(1#λN)M/N估计电路的失效率上限,得到电路设计的SEU数目M#电路失效率λM评估结果。采用本发明的方法通过次数很少的故障注入,即可对FPGA电路设计抗SEU性能作出有效评价,大大减少了实验的次数和评估的周期。
 【主权项】  一种SRAM型FPGA单粒子软错误与电路失效率关系快速测定方法,其特征在于包括如下步骤:(1)选定初始向FPGA配置区注入的翻转位数为N位;(2)随机选择FPGA配置区中的N位进行故障注入,运行FPGA,记录FPGA输出是否出现错误;(3)重复步骤(2)k次,计算FPGA的失效率λN;如果失效率λN小于30%,则增大翻转位数N,返回步骤(2);如果失效率λN超过70%,则减小翻转位数N,返回步骤(2);如果失效率λN在30%到70%,则固定N值,进入步骤(4);(4)按照固定的N值,进行n次的故障注入,记录FPGA输出是否出现错误;(5)计算注入N位随机故障后电路失效率λN,然后计算1#(1#λN)M/N,作为翻转位数M时电路的失效率λM的上限,其中M<N。
 【页数】  9
 【主分类号】  G11C29/10
 【专利分类号】  G11C29/10;G11C29/56
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