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一种芯片校准方法、电路及芯片  
 【申请号】  CN201610655888.1  【申请日】  2016-08-11
 【公开号】  CN106324479B  【公开日】  2020-01-31
 【申请人】  上海东软载波微电子有限公司  【地址】  200235 上海市徐汇区龙漕路299号天华信息科技园2A楼5层
 【共同申请人】  
 【发明人】  袁俊;关硕;陈光胜
 【国际申请】    【国际公布】  
 【进入国家日期】  
 【专利代理机构】  北京集佳知识产权代理有限公司  【代理人】  张振军;吴敏
 【分案原申请号】  
 【国省代码】  31
 【摘要】  一种芯片校准方法、电路及芯片,所述方法包括:接收基准模拟信号,利用模数转换器将所述基准模拟信号转换成第一类数字信号;接收待校准信号,利用所述模数转换器将所述待校准信号转换成第二类数字信号,所述待校准信号来自待校准芯片的信号产生器;计算所述第一类数字信号和所述第二类数字信号的差值,根据所述第一类数字信号与所述第二类数字信号的差值和预设的差值范围完成校准,其中,所述模数转换器的基准电压由所述待校准芯片以外的电压源提供。所述方法、电路及芯片可以提升芯片的校准效率,降低校准成本。
 【主权项】  1.一种芯片校准方法,其特征在于,包括:接收基准模拟信号,利用模数转换器将所述基准模拟信号转换成第一类数字信号;所述模数转换器集成于芯片内;所述基准模拟信号的数值是待校准芯片的信号产生器需要产生信号的目标数值;接收待校准信号,利用所述模数转换器将所述待校准信号转换成第二类数字信号,所述待校准信号来自待校准芯片的信号产生器;计算所述第一类数字信号和所述第二类数字信号的差值,根据所述第一类数字信号与所述第二类数字信号的差值和预设的差值范围完成校准,并生成指示待校准芯片是否为良品的校准结果;其中,所述模数转换器的参考电压由所述待校准芯片以外的电压源提供。
 【页数】  12
 【主分类号】  G01R31/28
 【专利分类号】  G01R31/28
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