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用于测试时间减少的方法和设备  
 【申请号】  CN201580023719.X  【申请日】  2015-05-08
 【公开号】  CN106461724A  【公开日】  2017-02-22
 【申请人】  德克萨斯仪器股份有限公司  【地址】  美国德克萨斯州
 【共同申请人】  
 【发明人】  S·N·波蒂;R·米塔尔;M·S·卡乌萨;V·辛格哈尔
 【国际申请】  2015-05-08 PCT/US2015/029996  【国际公布】  2015-11-12 WO2015/172086 EN
 【进入国家日期】  
 【专利代理机构】  北京纪凯知识产权代理有限公司 11245  【代理人】  赵志刚;孙娜燕
 【分案原申请号】  
 【国省代码】  US
 【摘要】  在用于测试集成电路(IC)的一种电路(100)的所述示例中,电路(100)包括接收N个扫描输入(102)并生成M个伪扫描输入(106)的输入转换器(104),其中M和N是整数。扫描压缩架构(110)耦合到输入转换器(104)并响应于M个伪扫描输入(106)生成P个伪扫描输出(116)。输出转换器(118)耦合到扫描压缩架构(110)并响应于P个伪扫描输出(116)生成Q个扫描输出(120),其中P和Q是整数。输入转换器(104)以第一频率接收N个扫描输入(102)并以第二频率生成M个伪扫描输入(106)。输出转换器(118)以第二频率接收P个伪扫描输出(116)并以第一频率生成Q个扫描输出(120)。
 【主权项】  一种电路,所述电路包括:输入转换器,其被配置为接收N个扫描输入并且被配置为生成M个伪扫描输入,其中M和N是整数;扫描压缩架构,其耦合到所述输入转换器且被配置为响应于所述M个伪扫描输入而生成P个伪扫描输出;和输出转换器,其耦合到所述扫描压缩架构且被配置为响应于所述P个伪扫描输出而生成Q个扫描输出,其中P和Q为整数,并且所述输入转换器以第一频率接收所述N个扫描输入且以第二频率生成所述M个伪扫描输入,以及所述输出转换器以所述第二频率接收所述P个伪扫描输出且以所述第一频率生成所述Q个扫描输出。
 【页数】  24
 【主分类号】  G01R31/3177
 【专利分类号】  G01R31/3177;G06F11/25
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