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一种弱短路故障测试电路及其测试方法  
 【申请号】  CN201710090079.5  【申请日】  2017-02-20
 【公开号】  CN106771985A  【公开日】  2017-05-31
 【申请人】  中国人民解放军国防科学技术大学  【地址】  410073 湖南省长沙市开福区砚瓦池正街47号
 【共同申请人】  
 【发明人】  赵振宇;刘海斌;冯超超;徐实;王耀;何小威;乐大珩;余金山;马驰远;马卓;袁强
 【国际申请】    【国际公布】  
 【进入国家日期】  
 【专利代理机构】  北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444  【代理人】  王刚;龚敏
 【分案原申请号】  
 【国省代码】  43
 【摘要】  本发明实施例公开了一种硅通孔弱短路故障测试电路,该电路包括测试单元(101)、计数器(102)、扫描输出寄存器(103)和控制器(105),所述测试单元(101)的信号输出端与所述计数器(102)的信号输入端连接,所述计数器(102)的信号输出端与所述扫描输出寄存器(103)的信号输入端连接,所述控制器(105)的功能控制端分别与对应的所述测试单元(101)的控制端、所述计数器(102)的控制端、所述扫描输出寄存器(103)的控制端连接。本发明提供的一种硅通孔弱短路故障测试电路采用纯数字电路,内部单元可采用标准单元库,无需定制版图,对工艺节点的变迁没有任何约束。
 【主权项】  一种硅通孔弱短路故障测试电路,其特征在于,所述电路包括:测试单元(101)、计数器(102)、扫描输出寄存器(103)和控制器(105),所述测试单元(101)的信号输出端与所述计数器(102)的信号输入端连接,所述计数器(102)的信号输出端与所述扫描输出寄存器(103)的信号输入端连接,所述控制器(105)的功能控制端分别与对应的所述测试单元(101)的控制端、所述计数器(102)的控制端、所述扫描输出寄存器(103)的控制端连接,所述控制器(105)用于控制所述电路复位、初始化、等待和采样,得到高电平脉冲信号,并将所述高电平脉冲信号传输至所述测试单元(101),还用于控制所述测试单元(101)、所述计数器(102)和所述扫描输出寄存器(103)之间的信号传输和工作,所述测试单元(101)用于接收由所述控制器(105)得到的所述高电平脉冲信号并对所述高电平脉冲信号测试得到连续脉冲信号并将所述连续脉冲信号经所述控制器(105)控制传输至所述计数器(102)的信号输入端,所述计数器(102)用于接收所述连续脉冲信号并对所述连续脉冲信号处理得到所述电路测试结果并将所述电路测试结果经所述控制器(105)控制传输至所述扫描输出寄存器(103)的信号输入端,所述扫描输出寄存器(103)用于接收所述电路测试结果并将所述电路测试结果经所述控制器(105)控制扫描输出至外部设备。
 【页数】  18
 【主分类号】  G01R31/28
 【专利分类号】  G01R31/28
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