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辐射抗扰度多信号源测量系统及方法  
 【申请号】  CN201710181538.0  【申请日】  2017-03-23
 【公开号】  CN107102216A  【公开日】  2017-08-29
 【申请人】  北京中科国技信息系统有限公司  【地址】  100097 北京市海淀区蓝靛厂东路2号院7层1单元(A座)8C
 【共同申请人】  
 【发明人】  张志华;吕文晶;于海生;闫冉
 【国际申请】    【国际公布】  
 【进入国家日期】  
 【专利代理机构】  北京康信知识产权代理有限责任公司 11240  【代理人】  韩建伟;张永明
 【分案原申请号】  
 【国省代码】  11
 【摘要】  本发明公开了一种辐射抗扰度多信号源测量系统及方法。其中,该系统包括:信号发生器,用于提供输入信号,其中,信号发生器包括:至少两个信号源;信号处理装置,与信号发生器连接,用于对输入信号进行处理;天线,与信号处理装置连接,用于发射处理后的输入信号;信号检测仪器,分别与待测设备、信号发生器和信号处理装置连接,用于校准输入信号和待测设备的辐射抗扰度与场均匀性;外接设备,分别与信号检测仪器和信号发生器连接,用于获取信号检测仪器的检测参数,以及设置信号发生器的输入信号的信号参数。本发明解决了由于现有技术中在对待测设备需花费长时间的测试,导致的测试效率低的技术问题。
 【主权项】  一种辐射抗扰度多信号源测量系统,其特征在于,包括:天线、待测设备、信号发生器、信号处理装置、信号检测仪器和外接设备,其中,所述信号发生器,用于提供输入信号,其中,所述信号发生器包括:至少两个信号源;所述至少两个信号源,用于产生调频、调幅、调相或脉冲调制的调制信号;所述信号处理装置,与所述信号发生器连接,用于对所述输入信号进行处理;所述天线,与所述信号处理装置连接,用于发射处理后的所述输入信号;所述信号检测仪器,分别与所述待测设备、所述信号发生器和所述信号处理装置连接,用于校准所述输入信号和所述待测设备的辐射抗扰度与场均匀性;所述外接设备,分别与所述信号检测仪器和所述信号发生器连接,用于获取所述信号检测仪器的检测参数,以及设置所述信号发生器的所述输入信号的信号参数。
 【页数】  15
 【主分类号】  G01R29/08
 【专利分类号】  G01R29/08
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