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用于校准差分电路中跨导或增益随工艺或条件变化的方法和设备  
 【申请号】  CN201580072655.2  【申请日】  2015-12-11
 【公开号】  CN107210716A  【公开日】  2017-09-26
 【申请人】  高通股份有限公司  【地址】  美国加利福尼亚州
 【共同申请人】  
 【发明人】  李淼;孙立;朱志
 【国际申请】  2015-12-11 PCT/US2015/065358  【国际公布】  2016-07-21 WO2016/114882 EN
 【进入国家日期】  
 【专利代理机构】  北京市金杜律师事务所 11256  【代理人】  王茂华;张宁
 【分案原申请号】  
 【国省代码】  US
 【摘要】  提供了一种设备。设备包括被配置用于产生参考信号的校准电路,以及每个配置用于基于参考信号在随工艺或条件变化的经校准跨导下操作的至少一个差分电路。可以配置校准电路以独立于至少一个差分电路而产生参考信号。提供了一种用于操作至少一个差分电路的方法。方法包括产生参考信号并且基于参考信号在随工艺或条件变化的经校准跨导或增益下操作至少一个差分电路。可以独立于至少一个差分电路而产生参考信号。
 【主权项】  一种设备,包括:校准电路,被配置用于产生参考信号;以及至少一个差分电路,均被配置用于基于所述参考信号以相对于工艺或条件变化的经校准的跨导而操作,其中所述校准电路被进一步配置为独立于所述至少一个差分电路产生所述参考信号。
 【页数】  15
 【主分类号】  H03F3/45
 【专利分类号】  H03F3/45;H03K19/003;H03K19/0185
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