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质谱仪和使用质谱仪测量关于样品的信息的方法  
 【申请号】  CN201711304468.X  【申请日】  2012-12-31
 【公开号】  CN107946166A  【公开日】  2018-04-20
 【申请人】  九零八图案公司  【地址】  美国马萨诸塞州
 【共同申请人】  
 【发明人】  安德鲁·J·巴特费伊-萨博;克里斯多佛·D·布朗;迈克尔·乔宾;凯文·J·诺普;叶夫根尼·克雷洛夫;斯科特·米勒
 【国际申请】    【国际公布】  
 【进入国家日期】  
 【专利代理机构】  北京安信方达知识产权代理有限公司 11262  【代理人】  张瑞;杨明钊
 【分案原申请号】  201280078246.X 2012.12.31
 【国省代码】  US
 【摘要】  公开了质谱仪和使用质谱仪测量关于样品的信息的方法。质谱仪包括离子源、离子阱、离子检测器和气压调节系统,其中,在运行质谱仪期间,气压调节系统经配置在离子源、离子阱和离子检测器中的至少两个中维持在100mTorr与100Torr之间的气压,并且离子检测器经配置根据由离子源生成的离子的质荷比检测离子。
 【主权项】  一种质谱仪,其包括:离子源;离子阱;离子检测器;以及气压调节系统,其中,在运行所述质谱仪期间:所述气压调节系统被配置为在所述离子源、所述离子阱和所述离子检测器中的至少两个中维持在100mTorr与100Torr之间的气压;以及所述离子检测器被配置为根据由所述离子源生成的离子的质荷比检测所述离子。
 【页数】  72
 【主分类号】  H01J49/00
 【专利分类号】  H01J49/00;H01J49/24
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