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一种光电经纬仪的故障测试方法及系统  
 【申请号】  CN201711261216.3  【申请日】  2017-12-04
 【公开号】  CN108020241A  【公开日】  2018-05-11
 【申请人】  中国科学院长春光学精密机械与物理研究所  【地址】  130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
 【共同申请人】  
 【发明人】  王鹤淇;彭树萍;于洪君;王伟国;姜润强;李博;刘廷霞
 【国际申请】    【国际公布】  
 【进入国家日期】  
 【专利代理机构】  北京集佳知识产权代理有限公司 11227  【代理人】  骆宗力;王宝筠
 【分案原申请号】  
 【国省代码】  22
 【摘要】  本申请公开了一种光电经纬仪的故障测试方法及系统,其中,所述光电经纬仪的故障测试方法基于具有统一测试接口的光电经纬仪故障检测系统实现,首先通过所述测试适配器读取由待测分机的各部件测试信号构成的待测分机的测试信号集,然后将所述测试信号集中的各部件测试信号与各部件期望信号进行比较,确定各所述待测分机中的异常部件,从而实现对光电经纬仪待测分机的各个部件的故障诊断的目的,将故障诊断的粒度缩小为构成待测分机的各部件,使得技术人员可以针对出现故障的部件进行维修和具体故障诊断,降低了光电经纬仪的维修和故障诊断的难度。
 【主权项】  一种光电经纬仪的故障测试方法,其特征在于,基于光电经纬仪故障测试系统实现,所述光电经纬仪故障测试系统包括依次连接的测试接口、测试适配器和测试平台,所述测试接口包括电阻识别引脚、通讯引脚、模拟信号引脚和数字信号引脚,所述光电经纬仪的故障测试方法包括:通过所述测试适配器读取所述光电经纬仪的待测分机的测试信号集,所述测试信号集包括所述待测分机的各部件测试信号;将所述待测分机的测试信号集中的各部件测试信号与各部件期望信号进行比较,确定各所述待测分机中的异常部件。
 【页数】  19
 【主分类号】  G01C25/00
 【专利分类号】  G01C25/00
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