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一种测试半导体存储器件的方法及一种半导体存储器件  
 【申请号】  CN97118209.4  【申请日】  1997-09-03
 【公开号】  CN1176467  【公开日】  1998-03-18
 【申请人】  冲电气工业株式会社  【地址】  日本东京
 【共同申请人】  
 【发明人】  岩切逸郎
 【国际申请】    【国际公布】  
 【进入国家日期】  
 【专利代理机构】  上海专利商标事务所  【代理人】  沈昭坤
 【分案原申请号】  
 【国省代码】  JP
 【摘要】  揭示了用于在半导体存储器件上完成指定的测试的方法和设备。此半导体存储器件有一个时钟产生电路和一个控制电路,时钟产生电路响应于操作请求信号,产生时钟信号,而控制电路产生复位信号,以在一段预定的时间之后停止产生时钟信号。控制电路还响应于时钟信号产生至少一个操作控制信号,以执行存储器件的基本操作。
 【主权项】  一种在包括时钟产生电路和控制电路的半导体存储器件上完成 指定测试的方法,所述时钟产生电路响应于操作请求信号产生 时钟信号,所述控制电路产生复位信号,以在经过所指定的一 段时间后停止所述时钟信号的产生,所述控制电路还响应于所 述时钟信号至少产生一个操作控制信号来完成所述存储器件的 基本操作,其特征在于包括下面的步骤:向半导体存储器件输 入测试方式信号以启动指定的测试;延迟复位信号的产生,使 之超出预定的时间一段时间;当输入所述测试方式信号时,执 行指定的测试;以及通过终止所述测试方式信号的输入结束指 定的测试。
 【页数】  30
 【主分类号】  G11C29/00
 【专利分类号】  G11C29/00;H01L27/04
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