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半导体装置  
 【申请号】  CN200510106485.3  【申请日】  2005-09-30
 【公开号】  CN1793998  【公开日】  2006-06-28
 【申请人】  冲电气工业株式会社  【地址】  日本东京港区
 【共同申请人】  
 【发明人】  水桥比吕志;山本丰朗
 【国际申请】    【国际公布】  
 【进入国家日期】  
 【专利代理机构】  中国专利代理(香港)有限公司  【代理人】  浦柏明;叶恺东
 【分案原申请号】  
 【国省代码】  JP
 【摘要】  本发明提供一种能测定无延迟量的正确的时间的半导体装置。存 储器、逻辑电路混载LSI(10)形成测试用的输入输出路径,在存储 器(12)具有的存储器输入输出部(48)中设置带测试功能的输入输 出选择部(52),使用在测试模式下直接供给的时钟信号TCLK(34),
 【主权项】  1.一种半导体装置,混合搭载了多个实现一方面功能和与该一 方面功能不同的另一方面功能的单元,实现上述另一方面功能的单元 配设在实现一方面功能的单元的前级,其特征在于:该装置中, 将从外部向该装置输入的信号和从该装置向外部输出的信号分别 输入和输出,除了与该输入和输出对应实现各功能的通常模式之外, 还具有对该装置中的上述输入信号和输出信号测定信号的特性的测试 模式, 形成在上述通常模式下分别流过上述输入信号和输出信号的通常 的输入输出路径、以及在上述测试模式下绕过上述通常的输入输出路 径而分别使上述输入信号和输出信号直接流过实现上述一方面功能的 单元的测试用输入输出路径, 包含:切换单元,分别将上述输入信号和输出信号切换到上述通 常的输入输出路径和上述测试用输入输出路径, 实现上述一方面功能的单元包含:输入输出单元,分别输入输出 流过上述通常和上述测试用的输入输出路径的上述输入信号和输出信 号, 该输入输出单元包含:输入输出选择单元,使用在上述测试模式 下直接供给的测试用时钟信号,有选择地取入分别与上述输入信号和 输出信号对应的信号,输出该取入的信号。
 【页数】  26
 【主分类号】  G01R31/28
 【专利分类号】  G01R31/28
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