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测试装置、相位调整方法及存储器控制器  
 【申请号】  CN200580010169.4  【申请日】  2005-03-25
 【公开号】  CN1938788  【公开日】  2007-03-28
 【申请人】  爱德万测试株式会社  【地址】  日本东京
 【共同申请人】  
 【发明人】  佐藤新哉
 【国际申请】  2005-03-25 PCT/JP2005/005547  【国际公布】  2005-10-20 WO2005/098868 日
 【进入国家日期】  
 【专利代理机构】  北京中原华和知识产权代理有限责任公司  【代理人】  寿宁
 【分案原申请号】  
 【国省代码】  JP
 【摘要】  本发明的测试装置包括:时序比较器,以选通信号的时序获取从被测 试存储器所输出的输出信号的输出值;逻辑比较器,将时序比较器所获取 的输出值与预先生成的期待值进行比较,并输出比较结果;以及相位调整控 制电路,根据逻辑比较器所输出的比较结果,而调整选通信号的时序。而 且,本发明的测试装置还包括:第1可变延迟电路,其使选通信号延迟以提 供给时序比较器,而相位调整控制电路根据逻辑比较器所输出的比较结果, 设定第1可变延迟电路的延迟量。
 【主权项】  1.一种测试装置,对被测试存储器进行测试,其特征在于包括: 时序比较器,以选通信号的时序获取由所述被测试存储器所输出的输 出信号的输出值; 逻辑比较器,将上述时序比较器所获取的上述输出值与预先生成的期 待值加以比较,并输出比较结果;以及 相位调整控制电路,根据上述逻辑比较器所输出的上述比较结果,而 调整上述选通信号的时序。
 【页数】  30
 【主分类号】  G11C29/00
 【专利分类号】  G11C29/00;G01R31/28
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