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存储器测试装置  
 【申请号】  CN201721751730.0  【申请日】  2017-12-14
 【公开号】  CN207690508U  【公开日】  2018-08-03
 【申请人】  睿力集成电路有限公司  【地址】  230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦526室
 【共同申请人】  
 【发明人】  不公告发明人
 【国际申请】    【国际公布】  
 【进入国家日期】  
 【专利代理机构】  北京市铸成律师事务所 11313  【代理人】  张臻贤;武晨燕
 【分案原申请号】  
 【国省代码】  34
 【摘要】  一种存储器测试装置,所述装置包括环形振荡电路以及计数电路。环形振荡电路配置为从存储器电路接收数据处理开始信号,并且响应于所述数据处理开始信号发生振荡信号,并从所述存储器电路接收数据处理结束信号,并且响应于所述数据处理结束信号停止发生所述振荡信号。计数电路配置为接收所述环形振荡电路输出的振荡信号,计算在所述振荡信号持续的时间内,所述振荡电路中的脉冲周期数,以根据所述脉冲周期数确定所述存储电路处理数据的时间。本实用新型技术方案可以实现测量所述存储器电路处理数据的时间,根据存储器电路的处理数据的时间来进行存储器的其他性能开发,这样便于研发人员更有效率地对存储器进行开发。
 【主权项】  1.一种存储器测试装置,其特征在于,所述装置包括:环形振荡电路,配置为从存储器电路接收数据处理开始信号,并且响应于所述数据处理开始信号发生振荡信号;以及从所述存储器电路接收数据处理结束信号,并且响应于所述数据处理结束信号停止发生所述振荡信号;以及计数电路,配置为接收所述环形振荡电路输出的振荡信号,在所述振荡信号持续的时间内,对所述环形振荡电路中的脉冲周期数进行计数,以根据所述脉冲周期数确定所述存储器电路处理数据的时间。
 【页数】  11
 【主分类号】  G11C29/56
 【专利分类号】  G11C29/56
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