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半导体集成接口电路磁芯存储器驱动器测试方法的基本原理  
 【英文标准名称】  General principles of measuring methods of magnetic memory drivers for semiconductor interface integrated circuits
 【原文标准名称】  半导体集成接口电路磁芯存储器驱动器测试方法的基本原理
 【标准号】  GB 6794-1986
 【标准状态】  废止
 【国别】  中国
 【发布日期】  1986-08-28
 【实施或试行日期】  
 【发布单位】  国家质检总局(SBTS)
 【起草单位】  
 【标准类型】  产品方法标准(CF)
 【标准水平】  (B)
 【中文主题词】  接口;磁存储器;半导体器件;电驱动装置;集成电路;性能试验
 【英文主题词】  Electrically-operated devices;Interfaces (data processing);Integrated circuits;Performance testing;Semiconductor devices;Magnetic storage
 【摘要】  
 【中国标准分类号】  L56
 【国际标准分类号】  
 【页数】  17P;A4
 【正文语种】  汉语
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