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半导体器件 集成电路 第11部分:第1节:半导体集成电路(不包括混合电路)内部目检  
 【英文标准名称】  Semiconductor devices; integrated circuits; part 11; section 1: internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
 【原文标准名称】  半导体器件 集成电路 第11部分:第1节:半导体集成电路(不包括混合电路)内部目检
 【标准号】  IEC 60748-11-1-1992
 【标准状态】  N
 【国别】  国际
 【发布日期】  1992-04
 【实施或试行日期】  
 【发布单位】  国际电工委员会(IX-IEC)
 【起草单位】  IEC/SC 47A
 【标准类型】  ()
 【标准水平】  ()
 【中文主题词】  半导体器件;规范;集成电路;电气工程;外观检查(试验);电路工艺
 【英文主题词】  Circuit engineering;Electrical engineering;Integrated circuits;Semiconductor devices;Specification;Visual inspection (testing)
 【摘要】  Purpose of the tests is to check the internal materials, construction and workmanship for compliance with the requirements of the applicable specification. The tests will normally be used prior to capping or encapsulation on a 100 % inspection basis to d
 【中国标准分类号】  L56
 【国际标准分类号】  31_200
 【页数】  71P.;A4
 【正文语种】  英语
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