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分立半导体器件和集成电路.半导体器件.半导体传感器.霍尔元件  
 【英文标准名称】  Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Semiconductor devices - Semiconductor sensors - Hall elements
 【原文标准名称】  分立半导体器件和集成电路.半导体器件.半导体传感器.霍尔元件
 【标准号】  BS IEC 60747-14-2-2000
 【标准状态】  
 【国别】  英国
 【发布日期】  2001-05-15
 【实施或试行日期】  2001-05-15
 【发布单位】  英国标准学会(GB-BSI)
 【起草单位】  BSI
 【标准类型】  ()
 【标准水平】  ()
 【中文主题词】  电子设备及元件;半导体器件;霍耳效应;测头;集成电路;磁场效应
 【英文主题词】  Electronic engineering;Hall effect;Optoelectronic devices;Semiconductor devices;Sensors
 【摘要】  This part of IEC 60747 provides standards for packaged semiconductor Hall elements which utilize the Hall effect.
 【中国标准分类号】  L56
 【国际标准分类号】  31_080_99;31_080_01
 【页数】  18P.;A4
 【正文语种】  英语
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